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  • OTSUKA大塚电子MCPD-6800多通道光谱仪塔玛萨崎电子代理这是一款多通道多通道光谱仪,适用于紫外到近红外范围。 光谱测量可在短短 5 ms 内完成。 标准仪器的光纤允许各种测量系统,而无需指定样品种类。 除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外,它还可以与App结合使用,以评估物体的颜色和薄膜厚度。
  • OTSUKA大塚电子MCPD-9800多通道光谱仪塔玛萨崎电子代理这是一款多通道多通道光谱仪,适用于紫外到近红外范围。 光谱测量可在短短 5 ms 内完成。 标准仪器的光纤允许各种测量系统,而无需指定样品种类。 除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外,它还可以与App结合使用,以评估物体的颜色和薄膜厚度。
  • OTSUKA大塚电子OPTM-A3光学测量膜厚计塔玛萨崎电子用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱,实现了稳定的数据获取。虽然价格低,但通过取得**反射率,也可以分析光学常数。
  • OTSUKA大塚电子OPTM-A2光学测量膜厚计塔玛萨崎电子用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱,实现了稳定的数据获取。虽然价格低,但通过取得**反射率,也可以分析光学常数。
  • OTSUKA大塚电子OPTM-A1光学测量膜厚计塔玛萨崎电子用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱,实现了稳定的数据获取。虽然价格低,但通过取得**反射率,也可以分析光学常数。
  • OTSUKA大塚电子FE-300F光学测量膜厚计塔玛萨崎电子用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱,实现了稳定的数据获取。虽然价格低,但通过取得**反射率,也可以分析光学常数。
  • OTSUKA大塚电子ELSZneo粒径仪 带AS50塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外,还可以测量分子量。 作为一项新功能,采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。 它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
  • OTSUKA大塚电nanoSAQLA粒径仪塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外,还可以测量分子量。 作为一项新功能,采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。 它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
  • OTSUKA大塚电子ELSZneoSE粒径仪塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外,还可以测量分子量。 作为一项新功能,采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。 它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
  • OTSUKA大塚电子ELSZneo粒径仪塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外,还可以测量分子量。 作为一项新功能,采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。 它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
  • 塔玛萨崎电子(苏州)有限企业OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪ELSZ-2000S,粒径测量仪,ZETA电位仪
  • 塔玛萨崎电子(苏州)有限企业OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪ELSZ-2000ZS,粒径测量仪,ZETA电位仪
  • 塔玛萨崎电子(苏州)有限企业OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪SAQLA、ELSZneo,粒径测量仪,ZETA电位仪
  • 塔玛萨崎电子(苏州)有限企业OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪 ELSZneoSE、ELSZneo,粒径测量仪,ZETA电位仪
  • 塔玛萨崎电子(苏州)有限企业OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪ELSZneo,粒径测量仪,ZETA电位仪
  • 塔玛萨崎电子(苏州)有限企业代理OTSUKA大塚电子半导体SiC测厚仪OPTM-F3,OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测
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